Correlative investigation of Mg doping in GaN layers grown at different temperatures by atom probe tomography and off-axis electron holography - Université Côte d'Azur
Article Dans Une Revue Nanotechnology Année : 2020

Correlative investigation of Mg doping in GaN layers grown at different temperatures by atom probe tomography and off-axis electron holography

Catherine Bougerol
Fichier principal
Vignette du fichier
Nanotechnology-Final.pdf (1.97 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02406102 , version 1 (19-11-2020)

Identifiants

Citer

Lynda Amichi, Isabelle Mouton, Victor Boureau, Enrico Di Russo, Philippe Vennegues, et al.. Correlative investigation of Mg doping in GaN layers grown at different temperatures by atom probe tomography and off-axis electron holography. Nanotechnology, 2020, 31 (4), pp.045702. ⟨10.1088/1361-6528/ab4a46⟩. ⟨hal-02406102⟩
189 Consultations
392 Téléchargements

Altmetric

Partager

More